產(chǎn)品分類
產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
平行平晶 平面平晶 卡尺 游標(biāo)卡尺 單向爪數(shù)顯卡尺 數(shù)顯卡尺 游標(biāo)卡尺 電子卡尺 千分尺 外徑千分尺 三爪內(nèi)徑千分尺 百分表 千分表 量塊 塊規(guī) 比較樣塊 粗糙度比較樣塊 平行平晶 平面平晶
詳情介紹:
平行平晶
簡介
平行平晶具有兩個(或一個)光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測長技術(shù))。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03~0.05微米;2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平行平晶:是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
具體規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ
|
平行平晶
|
0-25mm
|
4塊/組
|
組Ⅱ
|
平行平晶
|
25-50mm
|
4塊/組
|
組Ⅲ
|
平行平晶
|
50-75mm
|
4塊/組
|
組Ⅳ
|
平行平晶
|
75-100mm
|
4塊/組
|
平行平晶尺寸系列表
組號
|
0-25
|
25-50
|
50-75
|
75-100
|
1
|
15.00,15.12
15.25,15.39 |
40.00,40.12
40.25,40.37 |
65.00,65.12
65.25,65.37 |
90.00,90.12
90.25,90.37 |
2
|
15.12,15.25
15.37,15.50 |
40.12,40.25
40.37,40.50 |
65.12,65.25
65.37,65.50 |
90.12,90.25
90.37,90.50 |
3
|
15.25,15.37
15.50,15.62 |
40.25,40.37
40.50,40.62 |
65.25,65.37
65.50,65.62 |
90.25,90.37
90.50,90.62 |
4
|
15.37,15.50
15.62,15.75 |
40.37,40.50
40.62,40.75 |
65.37,65.50
65.62,65.75 |
90.37,90.50
90.62,90.75 |
5
|
15.50,15.62
15.75,15.87 |
40.50,40.62
40.75,40.87 |
65.50,65.62
65.75,65.87 |
90.50,90.62
90.75,90.87 |
6
|
15.62,15.75
15.87,16.00 |
40.62,40.75
40.87,41.00 |
65.62,65.75
65.87,66.00 |
90.62,90.75
90.87,91.00 |